Leistungsstarke Röntgeninspektionslösung

Die phoenix microme|x / nanome|x Serie vereint hochauflösende 2D-Röntgentechnologie und 3D-CT in einem System.

Die innovativen und einzigartigen Eigenschaften der phoenix microme|x / nanome|x Serie, sowie eine extrem hohe Positioniergenauigkeit, machen beide Systeme zu einer effektiven und zuverlässigen Lösung für die verschiedensten 2D und 3D offline Prozess- und Qualitätskontrollen.
Die integrierte x|act-Technolgie bietet eine leicht zu programmierende CAD-basierte µAXI und gewährleistet eine automatische Prüfung im Mikrometerbereich. Ebenfalls einzigartig ist der hochdynamische DXR-Detektor. Mit bis zu 30 Bildern pro Sekunde, sorgt der DXR-Detektor für eine brillante Echzeitvorschau und eine extrem schnelle Datenerfassung für die 3D-CT.

 

Vorteile der phoenix microme|x / nanome|x Serie:

  • • Gestochen scharfe Live-Inspektionsbilder dank des hochdynamischen GE DXR-Detektor
  • • Einzigartige, leistungsstarke 180 kV / 20 W Submikron- oder Nanofokus Röntgenröhre für hoch absorbierende Proben
  • • Kurze Einrichtungszeit durch hocheffiziente automatische CAD-Programmierung
  • • Live-Einblendung von CAD-Daten und Prüfergebnissen selbst bei gedrehten und schrägen Prüfansichten
  • • Extrem hohe Fehlererkennung und Wiedergabegenauigkeit
  • • Detailerkennbarkeit bis zu 0,5 oder sogar 0,2 Mikrometer
  • • Erweiterte Fehleranalyse mit hochauflösender 3D-CT

 

Die weiterführenden Informationen als PDF-Download.

 

Montag, 09. Juli 2018 11:36 Uhr
Kategorie: Unternehmensnachrichten
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